-
1 automatic test line
Engineering: ATLУниверсальный русско-английский словарь > automatic test line
-
2 automatic line insulation test
Electrical engineering: ALITУниверсальный русско-английский словарь > automatic line insulation test
-
3 zautomatyzowana linia pomiarowa
• automatic test lineSłownik polsko-angielski dla inżynierów > zautomatyzowana linia pomiarowa
-
4 линия автоматического испытания
линия автоматического испытания
—
[ http://www.iks-media.ru/glossary/index.html?glossid=2400324]Тематики
- электросвязь, основные понятия
EN
Русско-английский словарь нормативно-технической терминологии > линия автоматического испытания
-
5 автоматическая испытательная линия
Engineering: automatic test lineУниверсальный русско-английский словарь > автоматическая испытательная линия
-
6 генератор испытательных строк
«слабая» строка, строка, с неплотной выключкой — loose line
Русско-английский словарь по информационным технологиям > генератор испытательных строк
-
7 знак смещения на одну строку
«слабая» строка, строка, с неплотной выключкой — loose line
Русско-английский большой базовый словарь > знак смещения на одну строку
-
8 переход на предшествующую строку
«слабая» строка, строка, с неплотной выключкой — loose line
Русско-английский большой базовый словарь > переход на предшествующую строку
-
9 признак конца строки
«слабая» строка, строка, с неплотной выключкой — loose line
Русско-английский большой базовый словарь > признак конца строки
-
10 символ перевода строки
«слабая» строка, строка, с неплотной выключкой — loose line
Русско-английский большой базовый словарь > символ перевода строки
-
11 символ смещения на одну строку
«слабая» строка, строка, с неплотной выключкой — loose line
Русско-английский большой базовый словарь > символ смещения на одну строку
-
12 деформация строк
«слабая» строка, строка, с неплотной выключкой — loose line
Русско-английский новый политехнический словарь > деформация строк
-
13 генератор сигналов испытательных строк
«слабая» строка, строка, с неплотной выключкой — loose line
Русско-английский словарь по информационным технологиям > генератор сигналов испытательных строк
-
14 код перевода строки
«слабая» строка, строка, с неплотной выключкой — loose line
Русско-английский словарь по информационным технологиям > код перевода строки
-
15 номер строки
«слабая» строка, строка, с неплотной выключкой — loose line
Русско-английский словарь по информационным технологиям > номер строки
-
16 преобразователь частоты строк
«слабая» строка, строка, с неплотной выключкой — loose line
Русско-английский словарь по информационным технологиям > преобразователь частоты строк
-
17 сегмент строки
«слабая» строка, строка, с неплотной выключкой — loose line
Русско-английский словарь по информационным технологиям > сегмент строки
-
18 сигнал опознавания строки
«слабая» строка, строка, с неплотной выключкой — loose line
Русско-английский словарь по информационным технологиям > сигнал опознавания строки
-
19 синхроимпульс строк
«слабая» строка, строка, с неплотной выключкой — loose line
Русско-английский словарь по информационным технологиям > синхроимпульс строк
-
20 система преобразования частоты строк
«слабая» строка, строка, с неплотной выключкой — loose line
Русско-английский словарь по информационным технологиям > система преобразования частоты строк
См. также в других словарях:
Test probe — Typical passive oscilloscope probe being used for testing an integrated circuit. A test probe (test lead, test prod, or scope probe) is a physical device used to connect electronic test equipment to the device under test (DUT). They range from… … Wikipedia
Test engineer — A (hardware) test engineer (TE) is a professional who determines how to create a process that would test a particular product in manufacturing, or related area like RMA department, in order to guarantee that the product will be shipped out with… … Wikipedia
Automatic number identification — (ANI) is a feature of telephony intelligent network services that permits subscribers to display or capture the telephone numbers of calling parties. In the United States it is part of Inward Wide Area Telephone Service (WATS). The ANI service… … Wikipedia
Automatic Message Accounting — (AMA) provides detail billing for telephone calls. When Direct Distance Dialing (DDD) was introduced in the USA, message registers no longer sufficed for dialed telephone calls. The need to record the time and phone number of each long distance… … Wikipedia
Automatic dependent surveillance-broadcast — (ADS B) is a cooperative surveillance technique for air traffic control and related applications. An ADS B out equipped aircraft determines its own position using a global navigation satellite system and periodically broadcasts this position and… … Wikipedia
Automatic number announcement circuit — An automatic number announcement circuit (ANAC) is a special telephone number that is meant to be used by phone company technicians and other telecommunications technicians to determine the phone number of a particular line. The way an ANAC works … Wikipedia
Automatic transmission — An automatic transmission (commonly AT or Auto ) is an automobile gearbox that can change gear ratios automatically as the vehicle moves, freeing the driver from having to shift gears manually. Similar but larger devices are also used for heavy… … Wikipedia
Back-end of line — Die Mikroelektronik ist ein Teilgebiet der Elektrotechnik bzw. der Elektronik, das sich mit der Miniaturisierung von elektronischen Schaltungen befasst … Deutsch Wikipedia
Front-end of line — Die Mikroelektronik ist ein Teilgebiet der Elektrotechnik bzw. der Elektronik, das sich mit der Miniaturisierung von elektronischen Schaltungen befasst … Deutsch Wikipedia
Multi-site test — Multi site test, or multisite test , or concurrent test , or parallel test are all semiconductor Automatic Test Equipment (ATE) terms that generally refer to testing of multiple devices at the same time. Currently, devices refer to System on a… … Wikipedia
Device under test — (DUT), also known as unit under test (UUT), is a term commonly used to refer to a manufactured product undergoing testing. In semiconductor testing In semiconductor testing, DUT refers to a specific die on a wafer or the resulting packaged part.… … Wikipedia